Servicio mejorado de control de polvo FLIR para cámaras de visión artificial

Los investigadores, fabricantes y técnicos de diagnóstico en campos especializados saben que cuanto más pequeña sea la incrustación, más importante es que los dispositivos de captación de imagen no contengan partículas que podrían obstruir o difuminar una muestra ampliada. Las aplicaciones como la microscopía fluorescente, la clasificación de células o tumores, la citometría, el diagnóstico hematológico, las inspecciones de pantallas y la fabricación de semiconductores requieren vías ópticas extremadamente limpias para garantizar la precisión y la fiabilidad de los resultados.

FLIR permite limpiar y ensamblar todos los conjuntos de componentes ópticos de las cámaras de visión artificial en nuestra planta de fabricación canadiense en un entorno limpio con certificación ISO (ISO7-Clase 10000). Este nivel estándar de control de polvo suele ser suficiente para estas aplicaciones; “polvo” en este caso hace referencia a cualquier partícula extraña. Sin embargo, algunas aplicaciones requieren un estándar aún más alto. En tales casos, FLIR ofrece el Servicio mejorado de control de polvo para todas sus cámaras de visión artificial, a excepción del nivel de placa Blackfly S (USB3/GigE) y todos los modelos Firefly.

Método de medición

Para realizar pruebas de contaminación, todas las superficies que pueden contener partículas sueltas se examinan debajo de una fuente de luz colimatada mediante un método de contraste de Weber. La tolerancia estándar para el umbral de contraste de Weber varía según el modelo de la cámara.

Se coloca una fuente de luz a una distancia fija del reborde de la lente de la cámara, lo que proporciona una fuente puntual de luz aproximada equivalente a F/100.

Medición de la calidad de la superficie óptica (simplificada)

En la figura anterior se muestra la configuración aproximada del método de medición de la calidad de la superficie óptica de FLIR. A continuación se brindan las definiciones:

• CO: superficie exterior de cristal de la tapa*
• CI: superficie interior de cristal de la tapa
• SO: superficie exterior de cristal del sensor
• SI: superficie interior de cristal del sensor

*Se debe tener en cuenta que, si bien se examina y se limpia la superficie exterior de cristal de la tapa, no se brinda ninguna garantía de que no haya polvo sobre dicha superficie una vez que el cliente abra la vía óptica.

Parámetros de captación de imagen:

• Ganancia = 0 dB
• Tiempo de exposición establecido de modo tal que la intensidad de la imagen sea de 100 pts en un formato de píxeles de 8 bits y convertidor analógico-digital (CAD).
• Compensación del nivel de negro = 0

Parámetros del umbral:

Las superficies ópticas pueden presentar anomalías, como hoyos, rasguños, imperfecciones del revestimiento, polvo, etc. Para probar si las cámaras cumplen con nuestros estrictos estándares, se convierte el tamaño de las anomalías en el diámetro circular equivalente para su medición. (Nota: estos umbrales no se aplican a CO). Contáctese con nosotros para analizar las necesidades y los requisitos específicos de su proyecto.

Nuestro compromiso

Para satisfacer los requisitos especializados para la detección de objetos pequeños en la fabricación de semiconductores y cumplir los rigurosos requisitos de los dispositivos médicos, nuestras cámaras de visión artificial ofrecen numerosas características, además del Servicio mejorado de control de polvo. Estas incluyen el control de firmware y las opciones de congelación, los ciclos prolongados de soporte técnico de productos (más de 10 años) y las características de hardware y software que permiten que los integradores realicen la calibración para lograr una reproducción del color muy precisa y un rendimiento con poca luz.

Estas características hacen que las cámaras de visión artificial FLIR sean especialmente relevantes para aplicaciones exigentes en áreas como ingeniería biomédica, desarrollo de productos ópticos, fabricación de semiconductores, investigación espacial y otros campos especializados.

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